ICチップテスト装置の不良データ統合及び分析
半導体後処理専門企業であるN社は、ICチップテストで1日3万件以上のデータが発生していますが、各機器データを統合して収集することができず、分析に活用できていませんでした。
また、高価な機械を運用していますが、各装置メーカー間のインターフェース方式が異なるため、データの統合と蓄積が困難でした。
製造メーカーが異なる機械であっても、全てのデータを統合し、不良の様々な原因と結果に対するデータを蓄積するためにEdgeCrossのMachine Managerソリューションを導入しました。特に、機械が停止したり異常が発生した際のアラート通知を通じて、生産性を向上させています。