半導体テスト企業 G社
半導体産業における精度と効率の重要性が高まるにつれ、パッケージング外観検査データの収集と分析はより重要なプロセスとなっています。
そこで、半導体テスト企業G社は、数十台のウェーハ外観検査装置のデータを効率的に収集、統合し、分析するために、EdgeCrossのMachine Managerソリューションを導入しました。
このソリューションの導入により、G社はテスト作業を最適化し、品質向上のためのより迅速かつ正確な意思決定を行うことができるようになりました。
現場が抱える問題
G社は、外観検査工程の精度を向上させ、市場競争力を維持するためには、各装置のデータ統合と分析が必須であると認識していました。
しかし、中央集中的なデータ管理が難しく、機械個別データを確認したり、USBを介して手作業で収集しなければならないなどの問題で、データ収集だけに相当な人員と時間がかかり、収集したデータを分析する専門人材も不足していました。
EdgeCrossのソリューション
- EdgeCrossのIoT機器を通じて、各外観検査装置のテストデータを簡単に収集し、分析することができる統合データインフラの構築。
- EdgeCrossのMachine Managerソリューションで作業環境と稼働状態に関するデータをリアルタイムでモニタリングし、異常発生時、現場に即座に対応可能。
- AI技術基盤の予測分析モデルで収集された稼働データを分析し、エラーや誤動作のような異常兆候を事前に検出して予知保全が可能。
