半導体後処理専門企業 N社
半導体後処理専門企業であるN社は、ICチップテストで1日3万件以上のデータが発生していますが、各機器データを統合して収集することができず、分析に活用できていませんでした。
また、高価な機械を運用していますが、各装置メーカー間のインターフェース方式が異なるため、データの統合と蓄積が困難でした。
製造メーカーが異なる機械であっても、全てのデータを統合し、不良の様々な原因と結果に対するデータを蓄積するためにEdgeCrossのMachine Managerソリューションを導入しました。
現場が抱える問題
プローブのテスト工程で不良が発生したデータに関しては、統合に苦労していました。
不良数に対する累積と不良現象に対するテスト条件などのIntegrationが必要で、今後の不良に関する分析のために、漏洩や欠落のないデータ保存が必要でした。
EdgeCrossのソリューション
- EdgeCrossのAIoTデバイスを通じて、テストマシンの基本データである良否判定に関するデータと不良履歴、Lotなどのデータを収集。
- デバイスで収集されたデータを基に、EdgeCrossのMachine Managerソリューションを通じてテストマシンの主要データをCloudサーバーに保存。
- 収集/蓄積されたデータを基に収量を把握し、不良の要因を分析。
